طیف سنجی پراش اشعه ایکس

با استفاده از اشعه ایکس ماهیت بلوری مواد را با اندازه‌گیری پراش اشعه ایکس(XRD) از صفحات اتم­‌های داخل ماده بررسی کیفی و کمی می­‌کنند، که هم به نوع و موقعیت نسبی اتم­‌ها در ماده و هم به مقیاس طولی که نظم کریستالی بر روی آن ادامه دارد وابسته است. بنابراین، می­توان برای اندازه­‌گیری محتوای بلوری مواد استفاده شود. نمونه‌­ها برای تجزیه و تحلیل معمولاً به صورت پودرهای ریز تقسیم شده هستند ، اما می­توان پراش را از روی سطح نیز بدست آورد، به شرطی که نسبتاً مسطح و خیلی خشن نباشد. علاوه بر این مواد می‌­توانند از انواع مختلفی از جمله غیر آلی، آلی، پلیمرها، فلزات یا کامپوزیت‌ها باشند و کاربردهای بالقوه تقریباً همه زمینه­‌های تحقیقاتی، به عنوان مثال متالورژی، داروسازی، علوم زمین، پلیمرها و کامپوزیت ها، میکروالکترونیک و فناوری نانو را پوشش می­‌دهد. همچنین می­توان از پراش اشعه ایکس برای بررسی ساختار شبه بلوری مواد مزوپور استفاده کرد.

كاربردها 

–اندازه گيري ميانگين فواصل بين لايه ها يا سري هاي اتمي

–تعيين موقعيت تك بلور يا دانه و ترتيب اتم ها

–فهميدن ساختار كريستالي مواد ناشناخته

–تعيين مشخصات ساختاري شامل : پارامتر شبكه، اندازه و شكل دانه، كرنش، تركيب فاز و تنش داخلي مناطق كريستالي كوچك

–در روش طیف سنجی پراش اشعه ایکس (XRD)  با استفاده از رابطه شرر مي توان در شرايط خاص اندازه  دانه هاي نانومتري را تعيين كرد

–تشخيص فازهاي كريستالي و موقعيت آنها

–اندازه گيري ضخامت فيلم هاي نازك و چندلايه